descrizione dettagliata:

Sistema di analisi RHEED(kSA 400 Analytical RHEED System) Adatto a vari sistemi RHEED e sistemi di deposizione del film sottile (come l'attrezzatura pulsata di deposizione del laser PLD, il sistema di sputtering Sputtering, l'epitassia del fascio molecolare MBE, la deposizione chimica organica del vapore del metallo MOCVD, ecc.)! Attualmente, il sistema di quarta generazione combina hardware e software di alta qualità per fornire ai clienti informazioni di analisi RHEED ricche.

Oltre 500 utenti in tutto il mondoIstituzioni nazionali come l'Università di Nanchino, l'Istituto dei Semiconduttori, l'Accademia Cinese delle Scienze, l'11 Istituto di Elettronica, l'Università della Scienza e della Tecnologia della Cina, l'Università di Fudan, l'Istituto di Fisica Tecnica di Shanghai, ecc;
KSA 400 Analytical RHEED System Data Download

Parametri tecnici:
Sistema CCD: alta velocità, alta risoluzione e alta sensibilità
Sistema ottico: analisi quantitativa RHEED e analisi di imaging
• Flangia di interfaccia standard

Caratteristiche principali:
Analisi dell'immagine: modalità singola di analisi dell'immagine (analisi statica), gli utenti possono selezionare più modalità di immagine, modalità di messa a fuoco, modalità di scansione, modalità di registrazione, modalità interattiva di sovrapposizione dell'immagine, analisi dell'immagine 2D e 3D;
Monitoraggio e ripresa dell'evoluzione della frangia di diffrazione in tempo reale;
Misura in tempo reale del tasso di deposizione del film sottile;
Analisi diagnostica superficiale in situ
Potenti capacità di analisi software
Rilevamento di oscillazione RHEED
• Scalabile: Epitassia bloccata di fase (PLE), LEED, Auger/XPS, controllo della pistola elettronica e scansione della curva di oscillazione;

Applicazione pratica: